以下为您分别简要解读这四项最新推荐性国家标准——

微束分析 电子探针显微分析（EPMA） 术语》 (标准号:GB/T 21636-2021) 

本标准为修订采标标准，采标自ISO 23833:2013。

       电子探针显微分析（EPMA）是一门综合性的技术，涉及物理、化学、电子学等广泛术语。本标准只限于定义电子探针显微分析（EPMA）、能谱仪（EDS）显微分析标准化实践中使用和直接有关的术语，包括电子探针显微分析用一般术语定义；描述电子探针显微分析仪器的术语定义；用于电子探针显微分析方法的术语定义。本标准的大部术语也适合于能谱仪显微分析。

       第一版EPMA术语2008年发布以来，对EPMA、EDS显微分析相关术语的规范起到重要作用。为了增加新技术发展提出的新术语和对第一版相关术语进行补充和修改，ISO于2013年发布了EPMA术语修订版（第二版）。本标准修订是根据第二版进行等同采标。

本标准主要起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所 。

主要起草人：曾毅 、李香庭 。

《微束分析 用于波谱和能谱分析的粉末试样制备方法》（标准号:GB/T 41074-2021）

 本标准为制定采标标准，采标自ISO 20720:2018。

       本标准规定了使用安装在EPMA或SEM上的能量色散谱仪(EDS)或波长色散光谱仪(WDS)分析粉末中的颗粒时的样品制备方法。根据分析目的和粒度，对粉末颗粒分析的制备方法进行了分类。本标准适用于直径大于100nm且直径小于100μm的无机物颗粒。它只适用于“普通”粉末的分析，这意味着它不包括特殊应用的程序，如法医或痕量分析。

       本标准主要起草单位：中国地质科学院矿产资源研究所 、核工业北京地质研究院 、中国科学院地质与地球物理研究所 。

主要起草人：陈振宇 、范光 、毛骞 。

《微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》 (标准号:GB/T 20724-2021) 

本标准为GB/T 20724-2006的修订标准。

        本标准规定了用透射/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射（CBED）方法。适用于对线度从几纳米至几百微米、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度测定。主要内容为：CBED技术测量薄晶体厚度的方法概述、适用的材料试样、实验方法与基本步骤、数据的分析计算以及不确定度等，可供广大分析人员参照执行。

目前我国在科研院所、高等院校、大型企业和各地分析测试中心等实验室已装备了大量透射电镜/扫描透射电镜（TEM/STEM），开展相关应用。对应的国标GB/T20724- 2006已经发布多年，在此期间，材料研究水平以及仪器设备均有极大进步。因此，对GB/T20724- 2006进行修订具有现实的重要意义。

本标准主要起草单位：北京科技大学 、中国航发北京航空材料研究院 。

主要起草人：柳得橹 、娄艳芝 

《微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析》 (标准号:GB/T 41076-2021)  

本标准为制定标准。

      本标准规定了采用电子背散射衍射（EBSD）测量钢中奥氏体含量和形态的方法。本标准主要技术内容包括术语和定义、原理、设备、取样、试样制备、校准与核查、测量、数据分析及检测报告等。

      奥氏体存在于很多钢中，如低碳钢、中碳钢、低合金钢等。近几年奥氏体尤其在TRIP钢、QP钢、TWIP钢等低合金高强汽车板里应用很多。奥氏体在变形过程中会部分发生马氏体相变，其含量及转变量会直接影响到材料强度和延伸率的提高程度。转变量主要由奥氏体形态决定。因此，奥氏体的含量和形态直接影响了这些高强汽车板的服役性能。

        国内目前主要使用YB/T5128-2006《钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法》测量奥氏体含量。该标准在使用过程中存在如下问题：1)适用于无取向的钢;2)对形态无法表征。

       背散射电子衍射法（EBSD）在测量奥氏体含量时不受取向的影响，并且可以对奥氏体的形态进行表征，其测量结果对高强汽车板的研发有着很重要的指导意义，同时也可以作为该类产品的一项重要指标来监督产品质量。

本标准主要起草单位：首钢集团有限公司 、牛津仪器科技(上海)有限公司 、钢铁研究总院 。

主要起草人：孟杨 、鞠新华 、崔桂彬 、杨小鹏 、李继康 、张玉成 、陈鹰 、尹立新 、任群 、严春莲 、其其格 、贾惠平 。